光學高精密檢測儀
我們的檢驗設備
Opticline C 系列
非接觸式光學軸件快速測試儀
Opticline C 系列軸件測試儀系統可提供 1 µm 以上極高的量具能力。選用高精度 C 軸或者多感測器,針對您的需求調整性能。具有極高的靈活性,極高的精度和穩定性
產品特點:
1. 光學輪廓掃描靜動態綜合量測系統,具有長度、直徑、角度、真圓度、同心度、偏擺、圓筒度、直線度及螺牙量測等形狀公差檢測,包含測長和輪廓投影及圓度量測複合式功能
2. 適於測量兩側軸件、葉輪、柱塞、活塞、活塞杆、針閥體、齒輪軸、法蘭盤、曲軸、凸輪軸、轉子軸等,測量解析度直徑0.1um,長度1.2mm
3. 測量瞬間完成,非常迅速;測量精密,精度等級達到 µm 級
4. 測量時攝像頭雙向探測,可探測的工件直徑可達 140 mm,長度最大1200mm
5. 可接收資料傳輸即時處理
我們的檢驗設備
TRIMOS V7
二次元高度規
產品特點:
V7二次元高度規
在現場作為萬能測量檢測儀器使用了。
是一台全新完善的測量儀器,為客戶提供精準的測量要求。
具有極強的靈活性、堅固性、最大使用範圍可達到驚人的400mm的長測頭進行測量。
V7測高儀配備了革命性的技術,採用手動與電動一體操作手輪。使用者可以相互切換模式。
• 測量範圍400~1800mm
• 測量高度700mm
• 簡單易用的圖形介面
• 手動或者自動位移操作
• 2D模式、程式設計測量、資料統計
• 大量程附件
• 所有調整均無需工具
• RS232和USB介面